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CMI900/950系列X射線螢光測厚儀是一種功能強大的材料塗/鍍層測量儀器，可應用於材料的塗/鍍層厚度、材料組成、貴金屬含量檢測等領域，為產品質量控制提供準確、快速的分析。基於Windows2000中文視窗系統的中文版SmartLink
FP應用軟件包，實現了對CMI900/950主機的全面自動化控制，分析中不需要任何手動調整或手動參數設定。可同時測定最多5層、15種元素。數據統計報告功能允許用戶自定義多媒體分析報告格式，以滿足您特定的分析報告格式要求；如在分析報告中插入數據圖表、測定位置的圖象、CAD文件等。統計功能提供數據平均值、誤差分析、最大值、最小值、數據變動範圍、相對偏差、UCL(控制上限)、LCL(控制下限)、CpK圖、直方圖、X-bar/R圖等多種數據分析模式。 |
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CMI900/950系列X射螢光膜厚量測儀能夠測量多種幾何形狀、各種尺寸的樣品；並且測量點最小可達0.025
x 0.051毫米。 |
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CMI950系列採用密閉式樣品室，以方便測定各種形狀、各種規格的樣品。同樣，CMI950可提供四種規格的樣品台供用戶選用，分別為：
全程控樣品台：XYZ三軸程序控制樣品台，可接納的樣品最大高度為150mm，XY軸程控移動範圍為300mm
x 300mm。此樣品台可實現測定點自動編程控制。
Z軸程控樣品台：XY軸手動控制，Z軸自動控制，可接納的樣品最大高度為270mm。
全手動樣品台：XYZ三軸手動控制，可接納的樣品最大高度為356mm。
可擴展式樣品台用於接納超大尺寸樣品。 |
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CMI900系列採用開槽式樣品室，以方便對大面積線路板樣品的測量。樣品台供用戶選用，分別為：
標準台面：XY軸手動控制、Z軸自動控制。
加深型標準台面：XY軸手動控制、Z軸自動控制。
自動台面：XYZ軸自動控制。
超寬程控台面：XYZ軸自動控制。 |
